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低電流電容測試系統

                             

 低電流電容測試系統

產品介紹

      低電流和電容測試在納米材料與器件、半導體結構、有機材料與器件、材料表征和電化學等中應用廣泛。低電流和電容測試涉及環境噪聲干擾以及直流與交流的信合耦合等,經常面臨噪聲屏蔽、接地(虛地與實地)、信號傳輸、交直流干擾、線纜選擇等挑戰。翼望半導體的電流電容測試系統采用高穩定的精密探針臺系統、優化的交直流傳輸線纜、完善的接地系統和控制軟件組成,實現fA級電流測試以及fF級電容測試。           

                                                                            

產品特點     

  Ø高品質的低漏電線纜 

    Ø優化的接地屏蔽與信號通路

   Ø高穩定性探針臺系統

   Ø軟件一建控制,操作便捷       

                                                                                                

現場搭建案例

下圖是基于Keysight B1500半導體參數分析儀 實現fA以內的生物器件的掃描曲線。基于Keithley SCS4200的電容模塊測試fF級電容的掃描圖


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